Probe pita lebar ultra untuk Aplikasi Presisi Tinggi

Desain pita ultra lebar menghadirkan rasio signal-to-noise yang lebih tinggi dan kejernihan gambar yang lebih tajam.

Resolusi dan penetrasi gambar lebih tinggi.

Semua komponen inti dan proses manufaktur sepenuhnya dikembangkan dan diproduksi sendiri, sehingga memastikan stabilitas yang unggul.

Proses manufaktur yang matang dan kontrol kualitas yang ketat memastikan keandalan yang luar biasa.

Jenis: Array Cembung

Elemen larik: 192

Geometri Pemindaian: R55

-6dB Frekuensi Pusat: 3.4MHz

Frekuensi. rentang (MHz): 1-6

-6dB RBW: ≥ 100%

Sensitivitas: >-45dB

Jarak elemen array: 0,35 (Sebelum ditekuk)

Kedalaman fokus (mm): 65

Kedalaman maks (mm): 240